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ICDS所提供的解决方案旨在使客户能够降低集成电路设计和制造的成本，加快产品上市时间以提高盈利，并协助解决设计和制造 过程中的问题。
失效分析和提高成品率
提高成品率的关键在于对工艺效应，工艺缺陷 （工艺控制没有达到 规范， 工艺偏离设计，缺陷密度高） 和电路的灵敏度(设计对工艺容限 过紧，器件模型不精确）以及测试（测试程序，测试规范及容限优化） 的了解和控制。
ICDS公司的团队中包括了失效分析，器件优化和工艺控制与优化等方 面有专长的工程师，他们均有长期在国际大公司工作 多年的相关经验。 结合i-Flow/i-DATA的数据，ICDS公司的失效分析和成品率改进咨询服务 可以更加快速和有效第提供解决方案
工艺在线统计控制（SPC）
工艺在线统计控制（SPC）不仅可定量表征工艺加工精度及稳定性，而且是工艺监测的标准化工具。同时SPC也是生产企业 和用户之间的质量管理的标准化界面语言。
SPC通过监控与质量相关的工艺参数和容差控制实现无差错生产。
–SPC规格上下限来源于用户界面要求
–控制上下限与加工能力相关，一般正态分布由平均值上下的三 个标准偏差定义。
–工艺变化为随机工程或系统性漂移
ICDS公司合作项目包括：
–如何根据器件性能规格，设备加工能力，工艺优化条件以及 成本核算有效地设定工艺规格?
–如何有效地利用SPC数据进行生产能力分析?
–如何利用SPC趋势监控工艺偏离和及时纠正?
–通过CPK监测，发现加工瓶颈和关键工艺控制
ICDS-SPC 优点
–与ICDS I-Flow完美结合
–自动报警系统
器件模型及设计工具
以器件模型，IP库，设计规则和DFM为核心的IC设计界面是服务半导体集成电 路设计客户的关键。大型现代化半导体企业不仅 应当拥有高性能的客户服务界面，而且应具有界面研发和服务的能力以适应半导体技术的不断升级
ICDS依托于丰富的半导体人力资源和知识环境，利用国际现代化企业培养的人力资源，不仅提供半导体设计平台所需的器件模 型和设计工具咨询，而且通过合作可以和客户共同建立具有国际水平的科研队伍。
ICDS公司合作项目包括：
--建立器件模型提取方法(稳态、瞬态、噪声和RF等)
--建立和优化无源及有源器件模型
--在Spectre, HSPICE 和Eldo等仿真器上验证器件模型
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